Apple Facebook Google Microsoft badania bezpieczeństwo patronat DI prawa autorskie serwisy społecznościowe smartfony

Siemens pracuje nad załataniem luk w krytycznych systemach

23-12-2011, 17:30

Infrastruktura szpitali, a także najważniejszych instytucji w USA jest obecnie badana przez ekspertów firmy Siemens - poinformowała agencja Reuters.

robot sprzątający

reklama


Niemiecka korporacja poinformowała w czwartek, że w tym roku zgromadziła wiele informacji na temat luk w zabezpieczeniach kluczowych instytucji. By uchronić użytkowników przed atakami, obecnie trwają prace nad rozwiązaniem najważniejszych problemów tego typu.

Czytaj także: Anonymous znów zaatakowali strony egipskiego rządu

- Wykorzystanie tych luk mogłoby umożliwić hakerom zalogowanie się do nieszczelnego systemu jako użytkownik albo administrator - poinformował zespół zajmujący się naprawianiem dziur w krytycznych systemach. 

Billy Rios w rozmowie z agencją Reuters powiedział, że jednym z najistotniejszych zagrożeń jest "omijanie autoryzacji", które pozwala włamywaczom na obejście autoryzacji hasłem w webowych interfejsach. Oprogramowanie Siemensa tego typu znaleźć można m.in. w elektrowniach, zakładach chemicznych czy farmaceutycznych.

- Ludzie tworzą systemy do kontrolowania, a później nie zdają sobie sprawy z tego, że są w internecie, a ludzie czekają, by się z nimi połączyć - powiedział Rios. Warto przypomnieć, że niedawno rząd Stanów Zjednoczonych poinformował o tym, iż hakerom (prawdopodobnie z Chin) udało się włamać do tamtejszej Izby Handlowej, skąd mogli oni wykraść niezwykle cenne dane ekonomiczne.

Czytaj także: Kolejny członek Anonymous trafia za kratki


Aktualności | Porady | Gościnnie | Katalog
Bukmacherzy | Sprawdź auto | Praca
biurowirtualnewarszawa.pl wirtualne biura w Śródmieściu Warszawy


Artykuł może w treści zawierać linki partnerów biznesowych
i afiliacyjne, dzięki którym serwis dostarcza darmowe treści.

              *              

Źródło: Siemens, Reuters



Ostatnie artykuły:


fot. DALL-E



fot. DALL-E



fot. Freepik



fot. DALL-E



fot. DALL-E